DIN EN 60749-2001 半导体装置.机械和气候试验方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-18 17:30:08 浏览:9986
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods(IEC60749:1996+A1:2000);GermanversionEN60749:1999+A1:2000
【原文标准名称】:半导体装置.机械和气候试验方法
【标准号】:DINEN60749-2001
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:2001-09
【实施或试行日期】:2001-09-01
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:密封性;气候;半导体;环境;耐力;尺寸;集成电路;元部件;潮气;电子设备及元件;电学测量;半导体器件;外观检查(试验);大气压;温度;机械试验;易燃性;热学;试验;环境试验;电子工程;气候试验;温度变化;电气工程
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:61P;A4
【正文语种】:德语
【原文标准名称】:半导体装置.机械和气候试验方法
【标准号】:DINEN60749-2001
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:2001-09
【实施或试行日期】:2001-09-01
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:密封性;气候;半导体;环境;耐力;尺寸;集成电路;元部件;潮气;电子设备及元件;电学测量;半导体器件;外观检查(试验);大气压;温度;机械试验;易燃性;热学;试验;环境试验;电子工程;气候试验;温度变化;电气工程
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:61P;A4
【正文语种】:德语
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